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布魯克Hysitron PI 85L是SEM專用的多用途、高靈敏度熱學(xué)、電學(xué)和力學(xué)的測(cè)試系統(tǒng)，利用SEM的高分辨率，可以直接觀測(cè)整個(gè)材料動(dòng)態(tài)變化的過(guò)程。傳統(tǒng)納米壓痕儀通過(guò)光學(xué)顯微鏡或原位掃描只能觀察到壓痕前及壓痕后的形貌變化，中間過(guò)程無(wú)法觀察到，載荷位移曲線上的一些突變我們無(wú)法解釋，甚至單從曲線分析會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的解釋。
PI 85L安裝于電鏡，可以精確施加載荷，檢測(cè)位移，在電鏡下做壓痕、拉伸、彎曲、壓縮、加熱、電學(xué)和劃痕測(cè)試，可以借助電鏡的高分辨率，觀測(cè)并記錄整個(gè)材料測(cè)試過(guò)程，觀測(cè)材料在力下發(fā)生的動(dòng)態(tài)變化，如金屬蠕變、相變、斷裂起始等。
PI 85L采用Hysitron**技術(shù)三板電容傳感器，具備載荷和位移同時(shí)監(jiān)測(cè)和驅(qū)動(dòng)的獨(dú)特功能。具備業(yè)界**的精度，重復(fù)性和低背景噪音等優(yōu)點(diǎn)。PI 85L擁有多種特色測(cè)試功能模塊可供選擇，如動(dòng)態(tài)力學(xué)測(cè)試、MEMS加熱、拉伸測(cè)試、電學(xué)測(cè)試、納米劃痕等功能模塊。
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