參考價格
5-10萬元型號
MCP-S330?品牌
日東精工NITTOSEIKO產(chǎn)地
日本樣本
暫無探測器:
不限加速電壓:
不限電子槍:
不限電子光學(xué)放大:
不限光學(xué)放大:
不限通道數(shù):
不限誤差率:
不限波長準確度:
不限靈敏度:
100分辨率:
400重現(xiàn)性:
300儀器原理:
其他分散方式:
100測量時間:
不限測量范圍:
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全自動測量:測量、計算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出完全自動化,大大提高了測量效率和準確性。
大樣品尺寸測量:樣品尺寸可達300mm,可容納多個樣品,能夠繪制**300mm見方的樣品并連續(xù)測量多個樣品。
多種測量方式:可以通過三種方式進行測量位置設(shè)置:網(wǎng)格輸入、直線輸入和順序輸入。
寬測量范圍:可連接到Loresta GX,測量范圍為10??至10?Ω。
比較器功能:在屏幕上標注范圍外的測量結(jié)果的測定點。
粉末測量功能:要測量粉末的體積電阻率,只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設(shè)備中即可。該裝置施加給定的壓力,同時測量粉末的電阻率和壓制密度。
測量范圍:10?2至10?Ω。
樣品尺寸:**300mm見方。
應(yīng)用領(lǐng)域廣泛:適用于金屬、金屬薄膜、導(dǎo)電涂層、導(dǎo)電薄膜、片材等多種材料的電阻率測量。
膜厚和成分變化檢測:導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
電子元件和材料開發(fā):可用于電子元件和材料的開發(fā)和質(zhì)量控制。
產(chǎn)品特點
全自動測量:測量、計算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出完全自動化,大大提高了測量效率和準確性。
大樣品尺寸測量:樣品尺寸可達300mm,可容納多個樣品,能夠繪制最大300mm見方的樣品并連續(xù)測量多個樣品。
多種測量方式:可以通過三種方式進行測量位置設(shè)置:網(wǎng)格輸入、直線輸入和順序輸入。
寬測量范圍:可連接到Loresta GX,測量范圍為10??至10?Ω。
比較器功能:在屏幕上標注范圍外的測量結(jié)果的測定點。
粉末測量功能:要測量粉末的體積電阻率,只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設(shè)備中即可。該裝置施加給定的壓力,同時測量粉末的電阻率和壓制密度。
技術(shù)參數(shù)
測量范圍:10?2至10?Ω。
樣品尺寸:最大300mm見方。
功能與應(yīng)用
應(yīng)用領(lǐng)域廣泛:適用于金屬、金屬薄膜、導(dǎo)電涂層、導(dǎo)電薄膜、片材等多種材料的電阻率測量。
膜厚和成分變化檢測:導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
電子元件和材料開發(fā):可用于電子元件和材料的開發(fā)和質(zhì)量控制。
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