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技術參數：

核心優勢:

• **光通量產品

  光子通量高于4,000,000光子/秒/eV，采譜效率數倍于其他產品；獲得和同步輻射一樣的數據質量

• 優異的穩定性

  光源單色光強度穩定性優于0.1%，重復采集能量漂移 < 50 meV

• 1%探測極限

  高光通量、優異的光路優化和極好的光源穩定性確保所測元素含量>1%時依舊獲得高質量EXAFS數據

儀器原理：

X射線吸收精細結構譜儀 (X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。

Mn數據，Mn K-edge XAFS數據，數據與同步輻射光源一致

Fe樣品Kβ發射譜數據：core to core XES 和 valence to core XES

測試數據：

Foil EXAFS數據

可測元素：綠色部分可測K邊，黃色部分可測L邊

 應用領域：

工業催化、儲能材料、納米材料、環境毒理、也質分析、重元素分析等