手機(jī)版
關(guān)于我們
加入收藏
復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
6 年
金牌會(huì)員
金牌會(huì)員
已認(rèn)證
撥打電話
獲取底價(jià)
提交后，商家將派代表為您專人服務(wù)
復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
金牌會(huì)員已認(rèn)證
飛納掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng) Phenom Particle Metric
—— 研究顆粒和粉末的強(qiáng)大工具
使用基于飛納臺(tái)式掃描電鏡（Phenom SEM）的 ParticleMetric 顆粒測(cè)試工具，以*快、*簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰圖像質(zhì)量的 Phenom 飛納掃描電鏡，加上 Particle Metric 顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強(qiáng)大工具。
基于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案 ParticleMetric 能夠使用戶根據(jù)需要，隨時(shí)獲取所觀測(cè)顆粒的面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長、寬高比、充實(shí)度、伸長率、灰度等級(jí)、長軸、短軸長度（橢圓）、凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗锏葦?shù)據(jù)，*終實(shí)現(xiàn) ParticleMetric 加速顆粒物分析速度、提升產(chǎn)品質(zhì)量的目的。
飛納掃描電鏡顆粒工具ParticleMetric的功能
1.可進(jìn)行以下顆粒分析
顆粒尺寸范圍：100nm ~ 0.1mm
顆粒探測(cè)速度：高達(dá) 1000 個(gè)/分鐘
顆粒測(cè)量屬性：大小、形狀、數(shù)量
2.可以測(cè)量的顆粒參數(shù)
面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長、寬高比
充實(shí)度、伸長率、灰度等級(jí)、長軸長度和短軸長度（橢圓）
凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗?/span>
3.可以提供的圖形顯示
按數(shù)量或體積的線性、對(duì)數(shù)、雙對(duì)數(shù)點(diǎn)狀圖
任何指定參數(shù)的散點(diǎn)圖
單個(gè)顆粒的 SEM 圖像
4.可以提供的圖形輸出
Word 版本 docx 格式的報(bào)告，TIFF 格式的圖像
CSV 文件，離線分析的項(xiàng)目文件（.PAME）ProSuite 的一部分
飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng) ParticleMetric 工具的優(yōu)勢(shì)
1. 加載 ParticleMetric 軟件的飛納臺(tái)式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像，方便用戶采集超細(xì)顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數(shù)據(jù)；
2. 全自動(dòng)的飛納掃描電鏡顆粒測(cè)試系統(tǒng) ParticleMetric 軟件測(cè)量可以實(shí)現(xiàn)超出光學(xué)顯微鏡、更好景深的視覺效果，為用戶提供顆粒物的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、研發(fā)和質(zhì)量控制方面的細(xì)節(jié)數(shù)據(jù)；
3. ParticleMetric 軟件生成的柱狀圖、散點(diǎn)圖可以作為報(bào)告的內(nèi)容按照指定格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測(cè)顆粒的不同屬性，生成數(shù)量柱狀圖和體積柱狀圖。散點(diǎn)圖可以按照任何一項(xiàng)顆粒的特性生成，以便揭示相關(guān)聯(lián)系和趨勢(shì)；
4. 直接由 Phenom 獲取圖像，識(shí)別并確認(rèn)諸如破損顆粒、附著物和外來顆粒，關(guān)聯(lián)顆粒物的特征，比如直徑、充實(shí)度、縱橫比和凹凸度；
5. 便捷的操作提升了工作效率并使計(jì)劃表簡單化和可視化；
6. 無限制的圖像采集，可輕松存儲(chǔ)于網(wǎng)絡(luò)或優(yōu)盤，便于共享、交流或以后參考；
7. Phenom 的易用性和對(duì)環(huán)境的良好適應(yīng)力，用戶可以將試樣**程度視覺化；
8. 附有高清圖片的統(tǒng)計(jì)學(xué)數(shù)據(jù)
飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng) ParticleMetric 軟件適合的應(yīng)用領(lǐng)域
化妝品行業(yè)；食品行業(yè)；化工行業(yè)；制藥行業(yè)；陶瓷；顆粒以及表面涂層；顆粒狀添加劑；環(huán)境顆粒；濾器/篩網(wǎng)公司
飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的工作原理介紹？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的使用方法？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)多少錢一臺(tái)？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)使用的注意事項(xiàng)飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的說明書有嗎？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的操作規(guī)程有嗎？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)有現(xiàn)貨嗎？飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)包安裝嗎？相關(guān)產(chǎn)品
更多
相關(guān)方案
更多
企業(yè)名稱
復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司企業(yè)類型
有限責(zé)任公司(自然人投資或控股)信用代碼
91310115594714659N法人代表
樊麗麗注冊(cè)地址
上海市閔行區(qū)申濱路88號(hào)704單元成立日期
2012-04-19注冊(cè)資本
500萬(元)有效期限
2012-04-19 至 2042-04-18
經(jīng)營范圍
一般項(xiàng)目：儀器儀表、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備、電子產(chǎn)品及相關(guān)零配件的研發(fā)和銷售；從事儀器儀表技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、技術(shù)推廣、技術(shù)咨詢、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)交流；貨物進(jìn)出口；技術(shù)進(jìn)出口；信息咨詢服務(wù)（不含許可類信息咨詢服務(wù)）。（除依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目外，憑營業(yè)執(zhí)照依法自主開展經(jīng)營活動(dòng)）
虛擬號(hào)將在 秒后失效
使用微信掃碼撥號(hào)
